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半導體芯片高低溫交變試驗箱

更新時間:2022-10-25

訪問量:1043

廠商性質:生產廠家

生產地址:

簡要描述:
半導體芯片高低溫交變試驗箱可以準確地模擬低溫、高溫等復雜的自然狀環境,適用于電子、電器、電池、塑膠、食品、紙品、車輛、金屬、化學、建材、研究所、檢驗、大學等行業單位品管檢測之用。
品牌豪恩產地國產
是否防爆常規型溫度范圍常規型
制冷方式壓縮機制冷

一、半導體芯片高低溫交變試驗箱特點

內箱材料使用SU304不銹鋼板,具有耐酸、耐腐蝕易清洗特點;

樣品架可根據需要調節上下的位置;

箱門具備大視角保溫真空鋼化玻璃,便于用戶視察樣品試驗過程;

采用優質的門磁封條和保溫材料令整機性能更*;

具有合理的風道循環系統,使得箱體內溫濕度達到高均勻性;

箱體左側配有測試引線孔;

供水系統:采用自動補水功能,標配水箱

二、半導體芯片高低溫交變試驗箱性能:

指氣冷式在室溫20℃,空載時

規格型號:HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)

容量:

80升內箱尺寸(寬*高*深):400X500X400mm

150升內箱尺寸(寬*高*深):500X600X500mm

225升內箱尺寸(寬*高*深):600X750X500mm

408升內箱尺寸(寬*高*深):600X850X800mm

800升內箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X800mm

1000升內箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X1000mm

溫度范圍:

A表示:0℃~+150℃,B表示:-20℃~+150℃,C表示:-40℃~+150℃,

D表示:-60℃~+150℃,E表示:-70℃~+150℃

溫度精度:±0.01℃

溫度波動度:±0.5℃

溫度均勻度:±2.0℃

濕度范圍:20%RH~98%RH

濕度精度:±0.1%R.H

濕度波動度:±2.0%R.H.

濕度均勻度:±3%R.H.

升溫速率:平均3℃/min(非線性、空載時;從常溫+25℃升至+85℃約20min);可按要求定制非標規格

降溫速度:平均1℃/min(非線性、空載時;從常溫+25℃降至-40℃約65min);可按要求定制非標規格

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三、三大系統:

1、制冷劑循環系統:

蒸發器中的液態制冷劑吸收空氣的熱量(空氣被降溫及除濕)并開始蒸發,制冷劑與空氣之間形成一定的溫度差,液態制冷劑亦*蒸發變為氣態,后被壓縮機吸入并壓縮(壓力和溫度增加),氣態制冷劑通過冷凝器(風冷/水冷)吸收熱量,凝結成液體。通過膨脹閥(或毛細管)節流后變成低溫低壓制冷劑進入蒸發器,完成制冷劑循環過程。

2、空氣環系統:

風機負責將空氣從回風口吸入,空氣經過蒸發器(降溫、除濕),加濕器,電加熱器(升溫)后經送風口送到用戶需的空間內,送出的空氣與空間內的空氣混合后回到回風口。

3、電器自控系統:

包括電源部分和自動控制部分。

電源部分通過接觸器,對壓縮機、風扇、電加器器,加濕器等供應電源自動控制分部分又分為溫、濕度控制及故障保護部分:溫、濕度控制是通過溫、濕度控制器,將回風的溫濕度與用戶設定的溫濕作對比,自動運行壓縮機(降溫、除濕),加濕器,電加熱(升溫)等元件,實現恒溫恒濕的自動控制。

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