紙箱耐壓形變抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)如何操作使用
1.打開(kāi)電源,把上壓板上升,調(diào)紙箱抗壓試驗(yàn)機(jī)上壓板到可放紙箱的足夠空間,參照下壓板的格圖,將試樣紙箱放入壓縮板中間,
2.當(dāng)上壓板與紙箱上表面距離較大時(shí),按高速鍵先下降接近紙箱上表面時(shí)停止。
3.紙箱耐壓形變抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)操作控制器,按“清零"鍵和“峰值"鍵,按“下降"鍵,按“測(cè)試"鍵開(kāi)始測(cè)試 當(dāng)測(cè)試品達(dá)到zui大值時(shí),機(jī)器自動(dòng)停機(jī)并保持峰值。
4.按“打印"自動(dòng)輸出打印值。
5.按“上升"壓板離開(kāi)測(cè)試樣品,按“停止"取出測(cè)試樣品,試驗(yàn)完成。
一、接上電源,開(kāi)機(jī),進(jìn)入到“測(cè)試界面";
二、按“取消"鍵退回到“測(cè)試參數(shù)設(shè)置界面"進(jìn)行如下參數(shù)的設(shè)置(如需更改);
a. 按“3" 鍵選擇測(cè)試模式,若為“定載荷"則輸入定載荷值;若為“定位移"則輸入位移值;
b. 按“0" 鍵設(shè)置初始值的大小,用戶可根據(jù)被測(cè)試材料的特性估計(jì)此值,一般不能為設(shè)為0,否則可能在測(cè)試剛開(kāi)始時(shí)造成達(dá)到斷點(diǎn)比率或是誤判斷裂而停機(jī);
c. 按“1" 鍵設(shè)置斷點(diǎn)比率的值;
d. 設(shè)置標(biāo)矩,寬度,厚度等試樣信息;
e. 如果需要,設(shè)置定伸率、定荷等值;
f. 按“1" 鍵設(shè)置試驗(yàn)速度;
g. 按“2" 鍵設(shè)置回位速度;
h. 按“3" 鍵選擇是否在每次測(cè)試完后機(jī)臺(tái)自動(dòng)回位;
i. 按“確定"或“取消" 鍵進(jìn)入“測(cè)試界面";
注意:以上設(shè)置順序可任意更改。
三、按“上升"或“下降"鍵調(diào)整機(jī)臺(tái)到合適位置,將被測(cè)試品放入夾具;
四、當(dāng)夾持好被測(cè)試品后按“0"鍵置零,此時(shí)表示已準(zhǔn)備好即將進(jìn)入測(cè)試狀態(tài);
五、按“上升"或“下降"鍵進(jìn)行拉伸或壓縮試驗(yàn);
六、當(dāng)力值大于“初始值"后屏幕中央的“測(cè)試1"中的“1"將閃爍顯示,表示已進(jìn)入了“測(cè)試狀態(tài)",此時(shí)刻位移值將被自動(dòng)清零以重新開(kāi)始計(jì)位移;
七、如果連接了微型打印機(jī),測(cè)試過(guò)程中可按“7"鍵進(jìn)行即時(shí)打印,將當(dāng)前屏幕上顯示的“當(dāng)前力"和“兩點(diǎn)位移"打印出來(lái);
八、測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生材料斷裂或是達(dá)到斷點(diǎn)比率則機(jī)臺(tái)會(huì)自動(dòng)停止(將斷點(diǎn)比率設(shè)置為0%時(shí)是特例,不會(huì)自動(dòng)停機(jī)),表示本次測(cè)試完成。另外也可按“停止"鍵手動(dòng)停機(jī),完成本次測(cè)試;
九、可按 “9"鍵回位,使機(jī)臺(tái)回到第5步按下“0"時(shí)刻的位置;
十、可按“4"鍵進(jìn)入“查看界面"查看剛才完成的測(cè)試數(shù)據(jù);
a. 按“0"鍵切換顯示“查看界面1"頁(yè)面和“查看界面2"頁(yè)面;
b. 如果已進(jìn)行了多組測(cè)試則可按“Shift"鍵“+方向"切換顯示不同測(cè)試組的數(shù)據(jù);
c. 如果已進(jìn)行了多組測(cè)試則可按“9"鍵“-方向"切換顯示不同測(cè)試組的數(shù)據(jù);
d. 可按“7"鍵將當(dāng)前測(cè)試組的數(shù)據(jù)打印出來(lái);
e. 如果已進(jìn)行了多組測(cè)試則可按“8"鍵將所有測(cè)試組的數(shù)據(jù)打印出來(lái);
f. 按“取消"或“確定"鍵退回到“測(cè)試界面";
十一、可按“Shift"鍵進(jìn)入下一組試驗(yàn),屏幕中下方將顯示“測(cè)試2",此后重復(fù)第5步及之后的步驟完成第二組測(cè)試,一共最多可進(jìn)行5組測(cè)試;
十二、可隨時(shí)按下“5"鍵刪除當(dāng)前顯示的測(cè)試組的數(shù)據(jù);
十三、可隨時(shí)按下“6"鍵刪除所有已完成的測(cè)試。
注意:同一測(cè)試組不可以進(jìn)行兩次測(cè)試,否則將會(huì)發(fā)生覆蓋和重疊。